蘇州富鑫林光電科技有限公司_AFT 自動缺陷檢測裝置

AFT 自動缺陷檢測裝置

設備簡介：LCD模組自動缺陷檢測?AOI此系列產品專為筆記本、顯示器、電視等研發生產廠家，基于視覺與圖像處理技術，在屏幕點亮的情況下對其進行自動化光學缺陷檢測的設備，可以對cell及背光中各種點、線、Mura質量缺陷進行精確量化檢測。視覺檢測設備統一的檢測標準消除了人工檢測的主觀性，檢測結果客觀，穩定可靠。該系統可有效提高模組工廠檢測技術水平，提升產線效率，控制出廠合格率。

AFT 自動缺陷檢測裝置

關鍵特征設備參數適用范圍相關產品

??? 系統采用國際領先的高分辨率工業相機，搭配定制特殊三色濾光片，結合符合人眼感官特性的濾波算法，能穩定檢測最小缺陷尺寸為26μm，最高可檢測10μm 的缺陷，對Mura 缺陷可以進行量化分級?，穩定檢測2mm×2mm、對比度在3％以上的Mura缺陷，該設備已經超過人眼的檢測質量水平，并能夠提供更高的檢測效率。?系統可分為在線、離線兩種模式，同時又可根據產線要求進行專門開發及多種相機數目升級，實現最佳效率配置。

類別		技術規格
設備名稱		AFT AOI自動點燈測試機
檢查機種類		模組缺陷自動檢查機
驅動LCD數量		4片（根據尺寸調整）
檢查pattern種類		Black、White、Red、Green、Blue、32gray、64gray、128gray、上下表面除塵等
檢查pattern數量		8個pattern
檢查pattern速度		每個pattern＜0.6s
鏡頭檢查高度		22cm-52cm
相機分辨率		6576*4384
最大支持LCD分辨率		6576*4384
面板尺寸		2-65寸
檢測最小分辨精度		3um
LCD不良檢測種類	點不良	注：可檢查1/3子像素輝點，穩定檢測尺寸≥26umX26um(1/3子像素)且對比度≥15%的點缺陷，最高可以檢測尺寸≥9um X 9um且對比度≥60 %的BM缺陷
	線狀不良	可檢測78um(子像素級）且對比度≥10%的線缺陷，分辨S線、G線不良；分辨貫穿整枚屏的不良、未貫穿整枚屏的不良
	斑點	面積≥2mm2mm且對比度≥6 %或面積≥0.30.3m且對比度≥15%的色斑缺陷
	機能不良	能夠檢查從垂直角度看到的缺陷不能檢查方向性不良.

★ LCD ，Cell 段和Module 段基于視覺與圖像處理技術，在屏幕點亮的情況下對其進行自動化光學檢測的系統。
★ 檢測液晶屏幕顯示中的暗點、輝點、暗線、輝線及Mura 等缺陷。
★ 視覺AOI點燈檢測系統，可以對LCD Cell 段和Module 段中的各種點、線、Mura質量缺陷進行精確量化檢測。